產(chǎn)品推薦
飛納掃描電鏡
飛納臺(tái)式場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡 Phenom Pharos G2
Pharos STEM 臺(tái)式生物掃透電鏡
國產(chǎn)飛納 ProX國產(chǎn)型號(hào)飛納臺(tái)式掃描電鏡能譜一體機(jī)
Femto Smart 定制化多光子顯微鏡
Femto3D Atlas 聲光三維雙光子顯微鏡
FM-PR-PDS掩膜版｜保護(hù)膜表面顆粒物快速檢測(cè)系統(tǒng)
FM-W-PDS晶圓表面顆粒物快速檢測(cè)系統(tǒng)（PDS)
FM-PS-SAS-V01儀器表面顆粒物分析儀
FM-PS-PFS-V02環(huán)境落塵顆粒實(shí)時(shí)監(jiān)控儀（PFS）
LiteScopeAFM-SEM 同步聯(lián)用技術(shù)（通用版）
Neoscan NXL臺(tái)式大倉顯微CT
AFM-in-Phenom XL「新」AFM-SEM原子力掃描電鏡一體機(jī)
Phenom MAPS大面積圖像拼接
ChemiSEM飛納電鏡彩色成像技術(shù)
Automated Image Mapping飛納電鏡全景拼圖【新品】
傳真：
郵箱：info@phenom-china.com
地址：上海市閔行區(qū)虹橋鎮(zhèn)申濱路 88 號(hào)上海虹橋麗寶廣場(chǎng) T5，705 室
版權(quán)所有 © 2018 復(fù)納科學(xué)儀器（上海）有限公司 備案號(hào)：滬ICP備12015467號(hào)-2 管理登陸 技術(shù)支持：化工儀器網(wǎng) GoogleSitemap
400 857 8882
18516656178
